IR檢測排片設(shè)備用于手機(jī)濾光片上下表面及測面檢測,設(shè)備采用轉(zhuǎn)盤式高速物料流轉(zhuǎn)方案。設(shè)備包含Wafer并行高速上下料,Wafer 掃碼、Wafer 擴(kuò)模、頂針頂片、多吸嘴取片、濾光片兩面缺陷檢測、高精度排片、NG片回收等功能。設(shè)備上表面及下表面?zhèn)让鏅z測工位,通過高分辨率光學(xué)系統(tǒng),對濾光片崩點(diǎn)、臟污、劃傷、絲印進(jìn)行等進(jìn)行高精度測量檢測。特別針對濾光片凹坑檢測這個業(yè)界難點(diǎn),該設(shè)備集成了我司最新研制的凹坑
更新日期:2025-04-02
型號:MINSM-100
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家